par Chen, Rongmei;Weckx, Pieter;Salahuddin, Shairfe Muhammad;Kim, Soon-wook;Sisto, Giuliano ;Van Der Plas, Geert;Stucchi, Michele;Baert, Rogier;Debacker, Peter;Na, Myung-hee;Ryckaert, Julien;Milojevic, Dragomir ;Beyne, Eric
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.2.1-15.2.4), 9371905
Publication Publié, 2020-12-01
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.2.1-15.2.4), 9371905
Publication Publié, 2020-12-01
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