par Chen, Rongmei;Weckx, Pieter;Salahuddin, Shairfe Muhammad;Kim, Soon-wook;Sisto, Giuliano ;Van Der Plas, Geert;Stucchi, Michele;Baert, Rogier;Debacker, Peter;Na, Myung-hee;Ryckaert, Julien;Milojevic, Dragomir ;Beyne, Eric
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.2.1-15.2.4), 9371905
Publication Publié, 2020-12-01
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.2.1-15.2.4), 9371905
Publication Publié, 2020-12-01
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Chen, Rongmei; Weckx, Pieter; Salahuddin, Shairfe Muhammad; Kim, Soon-wook; Sisto, Giuliano; Van Der Plas, Geert; Stucchi, Michele; Baert, Rogier; Debacker, Peter; Na, Myung-hee; Ryckaert, Julien; Milojevic, Dragomir; Beyne, Eric |
Informations sur la publication: | Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.2.1-15.2.4), 9371905 |
Statut de publication: | Publié, 2020-12-01 |
Sujet CREF: | Chimie des solides |
Métallurgie | |
Physique de l'état solide | |
Electronique et électrotechnique | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
Note générale: | SCOPUS: cp.p |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0163-1918 |
info:doi/10.1109/IEDM13553.2020.9371905 | |
info:scp/85102950445 |