par Chen, Rongmei;Sisto, Giuliano ;Jourdain, Anne;Hiblot, Gaspard;Stucchi, Michele;Kakarla, N.;Chehab, Bilal;Salahuddin, Shairfe Muhammad;Schleicher, Filip;Veloso, Anabela;Hellings, Geert;Weckx, Pieter;Milojevic, Dragomir ;Van Der Plas, Geert;Ryckaert, Julien;Beyne, Eric
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2021-December, page (22.4.1-22.4.4)
Publication Publié, 2021-08-01
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2021-December, page (22.4.1-22.4.4)
Publication Publié, 2021-08-01
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