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New directions in the analysis of buried interfaces for device technology by hard X-ray photoemission

par Renault, Olivier;Deleuze, Pierre Marie;Courtin, J.;Bure, T.R.;Gauthier, N.;Nolot, Emmanuel;Robert-Goumet, Christine;Pauly, Nicolas ;Martinez, Eugénie;Artyushkova, Kateryna
Référence Faraday discussions, 236, page (288-310)
Publication Publié, 2022-01-01

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Titre:	New directions in the analysis of buried interfaces for device technology by hard X-ray photoemission
Auteur:	Renault, Olivier; Deleuze, Pierre Marie; Courtin, J.; Bure, T.R.; Gauthier, N.; Nolot, Emmanuel; Robert-Goumet, Christine; Pauly, Nicolas; Martinez, Eugénie; Artyushkova, Kateryna
Informations sur la publication:	Faraday discussions, 236, page (288-310)
Statut de publication:	Publié, 2022-01-01
Sujet CREF:	Physico-chimie générale
	Chimie théorique
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1359-6640
	info:doi/10.1039/d1fd00110h
	info:scp/85132103671
	info:pmid/35543197