New directions in the analysis of buried interfaces for device technology by hard X-ray photoemission

;Martinez, Eugénie ;Artyushkova, Kateryna
Référence Faraday discussions, 236, page (288-310)
Publication Publié, 2022-01-01

Article révisé par les pairs

Assessing advanced methods in XPS and HAXPES for determining the thicknesses of high-k oxide materials: From ultra-thin layers to deeply buried interfaces
par Bure, T.R. , Renault, Olivier , Nolot, Emmanuel , Robert-Goumet, Christine , Pauly, Nicolas
Publication 2022-10-12
Méthodes avancées en XPS et HAXPES pour la détermination des épaisseurs des matériaux high-k
par Bure, T.R. , Renault, Olivier , Nolot, Emmanuel , Robert-Goumet, Christine , Pauly, Nicolas
Publication 2022-04-11
In situ determination of indium/gallium composition in InxGa1-x nanodroplets on GaAs(1 1 1)A based on the complementarity between XPS and REELS
par Jouanneaud, Romain , Monier, Guillaume , Bideux, Luc , Pauly, Nicolas , Robert-Goumet, Christine
Publication 2025-01
Characterizing Critical Buried Interfaces by Inelastic Background Analysis using Lab-Scale Hard X-ray Spectroscopy
par Bure, T.R. , Robert-Goumet, Christine , Renault, Olivier , Nolot, Emmanuel , Pauly, Nicolas
Publication 2021-01-25
Frozen autocatalytic fronts in a radial flow
par Negrojevic, Luka , Comolli, Alessandro , Brau, Fabian , De Wit, Anne
Publication 2024-11-20

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