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New directions in the analysis of buried interfaces for device technology by hard X-ray photoemission

par Renault, Olivier ;Deleuze, Pierre Marie ;Courtin, J.;Bure, T.R.;Gauthier, N.;Nolot, Emmanuel ;Robert-Goumet, Christine ;Pauly, Nicolas

;Martinez, Eugénie ;Artyushkova, Kateryna
Référence Faraday discussions, 236, page (288-310)
Publication Publié, 2022-01-01

Article révisé par les pairs

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