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In situ determination of indium/gallium composition in InxGa1-x nanodroplets on GaAs(1 1 1)A based on the complementarity between XPS and REELS

par Jouanneaud, Romain;Monier, Guillaume;Bideux, Luc;Pauly, Nicolas ;Robert-Goumet, Christine
Référence Applied surface science, 679, 161218
Publication Publié, 2025-01

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Titre:	In situ determination of indium/gallium composition in InxGa1-x nanodroplets on GaAs(1 1 1)A based on the complementarity between XPS and REELS
Auteur:	Jouanneaud, Romain; Monier, Guillaume; Bideux, Luc; Pauly, Nicolas; Robert-Goumet, Christine
Informations sur la publication:	Applied surface science, 679, 161218
Statut de publication:	Publié, 2025-01
Sujet CREF:	Métallurgie
Mots-clés:	Droplet epitaxy
	GaAs substrate
	Indium content
	InGa self-assembled droplets
	REELS
	XPS
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0169-4332
	info:doi/10.1016/j.apsusc.2024.161218
	info:pii/S0169433224019329
	info:scp/85203824986