Focus Session: Advanced CMOS and 5.5D Packaging: Perspectives and Challenges for Design, Reliability and Security

par Amrouch, Hussam ;Milojevic, Dragomir

;Di Natale, Giorgio ;Toublanc, Jérôme
Référence Proceedings - Design, Automation, and Test in Europe Conference and Exhibition
Publication Publié, 2026-04-20

Article révisé par les pairs

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