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Focus Session: Advanced CMOS and 5.5D Packaging: Perspectives and Challenges for Design, Reliability and Security

par Amrouch, Hussam;Milojevic, Dragomir ;Di Natale, Giorgio;Toublanc, Jérôme
Référence Proceedings - Design, Automation, and Test in Europe Conference and Exhibition
Publication Publié, 2026-04-20

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Titre:	Focus Session: Advanced CMOS and 5.5D Packaging: Perspectives and Challenges for Design, Reliability and Security
Auteur:	Amrouch, Hussam; Milojevic, Dragomir; Di Natale, Giorgio; Toublanc, Jérôme
Informations sur la publication:	Proceedings - Design, Automation, and Test in Europe Conference and Exhibition
Statut de publication:	Publié, 2026-04-20
Sujet CREF:	Généralités
Mots-clés:	Advanced integration
	CFET
	chiplet
	nanosheet
	reliability
	security
	system-technology co-optimization
Note générale:	SCOPUS: cp.p
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1530-1591
	info:doi/10.23919/DATE69613.2026.11539746
	info:scp/105041983860