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Unit-Cell-Based Approach for Electromigration Compliance Checks in VLSI Power Delivery Networks

par Esposto, Simone;Ciofi, Ivan;Sisto, Giuliano ;Croes, Kristof;Milojevic, Dragomir ;Zahedmanesh, Houman
Référence IEEE transactions on device and materials reliability, 25, 2, page (232-239)
Publication Publié, 2025-05-02

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Titre:	Unit-Cell-Based Approach for Electromigration Compliance Checks in VLSI Power Delivery Networks
Auteur:	Esposto, Simone; Ciofi, Ivan; Sisto, Giuliano; Croes, Kristof; Milojevic, Dragomir; Zahedmanesh, Houman
Informations sur la publication:	IEEE transactions on device and materials reliability, 25, 2, page (232-239)
Statut de publication:	Publié, 2025-05-02
Sujet CREF:	Physique de l'état solide
	Métallurgie
	Electronique et électrotechnique
	Technologie de la sécurité
Mots-clés:	Automation
	design
	electromigration
	network reliability
	PDN
	power delivery networks
	redundancy
	SEB
	statistical electromigration budgeting
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1530-4388
	info:doi/10.1109/TDMR.2025.3566054
	info:scp/105004202677