Communication à un colloque
Titre:
  • Characterizing Critical Buried Interfaces by Inelastic Background Analysis using Lab-Scale Hard X-ray Spectroscopy
Auteur:Bure, T.R.; Robert-Goumet, Christine; Renault, Olivier; Nolot, Emmanuel; Pauly, Nicolas
Informations sur la publication:Journée des Spectroscopies d’Electrons (JSE2021) (2021-01-25/2021-01-26)
Statut de publication:Non publié, 2021-01-25
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Français