par Perumkunnil, Manu;Yasin, Farrukh;Rao, Siddharth;Salahuddin, Shairfe Muhammad;Milojevic, Dragomir ;Van Der Plas, Geert;Ryckaert, Julien;Beyne, Eric;Furnemont, Arnaud;Kar, Gouri Sankar
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.4.1-15.4.4), 9372046
Publication Publié, 2020-12-01
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2020-December, page (15.4.1-15.4.4), 9372046
Publication Publié, 2020-12-01
Article révisé par les pairs