par Beyne, Eric;Milojevic, Dragomir ;Van Der Plas, Geert;Beyer, Gerald
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2021-December, page (3.6.1-3.6.4)
Publication Publié, 2021-11-01
Référence Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2021-December, page (3.6.1-3.6.4)
Publication Publié, 2021-11-01
Article révisé par les pairs