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Joint rate and power density analysis in Manhattan environments: (a comparison of) stochastic geometry and ray-tracing approaches

par Demey, Simon;Wiame, Charles;Oestges, Claude ;De Doncker, Philippe
Référence (08-11 February, 2022: Bologna, Italy), Proc. of the European Cooperation in Science and Technology (EURO-COST CA20120 TD(22)01063)
Publication Publié, 2022-02

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Titre:	Joint rate and power density analysis in Manhattan environments: (a comparison of) stochastic geometry and ray-tracing approaches
Auteur:	Demey, Simon; Wiame, Charles; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:	(08-11 February, 2022: Bologna, Italy), Proc. of the European Cooperation in Science and Technology (EURO-COST CA20120 TD(22)01063)
Statut de publication:	Publié, 2022-02
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	EMF exposure
	stochastic geometry
	ray tracing
Langue:	Anglais