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Joint metrics for EMF exposure and coverage in real-world homogeneous and inhomogeneous cellular networks

par Gontier, Quentin ;Wiame, Charles;Wang, Shanshan;Di Renzo, Marco;Wiart, Joe JW;Horlin, François ;Tsigros, Christo;Oestges, Claude;De Doncker, Philippe
Référence IEEE transactions on wireless communications, 23, 10, page (13267-13284)
Publication Publié, 2024-05-21

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Titre:	Joint metrics for EMF exposure and coverage in real-world homogeneous and inhomogeneous cellular networks
Auteur:	Gontier, Quentin; Wiame, Charles; Wang, Shanshan; Di Renzo, Marco; Wiart, Joe JW; Horlin, François; Tsigros, Christo; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:	IEEE transactions on wireless communications, 23, 10, page (13267-13284)
Statut de publication:	Publié, 2024-05-21
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
	Mathématiques
	Informatique appliquée logiciel
	Electronique et électrotechnique
Mots-clés:	Analytical models
	Cellular networks
	coverage
	dynamic beamforming
	EMF exposure
	inhomogeneous Poisson point process
	Interference
	Mathematical models
	Measurement
	Nakagami-m fading
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1536-1276
	info:doi/10.1109/TWC.2024.3400612
	info:scp/85194046226