par Gontier, Quentin ;Petrillo, Luca ;Rottenberg, François ;Horlin, François ;Wiart, Joe JW;Oestges, Claude ;De Doncker, Philippe
Référence ICC(14-23 June, 2021: Montreal, Canada), Proc. of the IEEE International Conference on Communications
Publication Publié, 2021-06
Publication dans des actes
Titre:
  • Semi-empirical model of global exposure using stochastic geometry
Auteur:Gontier, Quentin; Petrillo, Luca; Rottenberg, François; Horlin, François; Wiart, Joe JW; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:ICC(14-23 June, 2021: Montreal, Canada), Proc. of the IEEE International Conference on Communications
Statut de publication:Publié, 2021-06
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:EMF exposure
stochastic geometry
cellular networks,
small cells
Langue:Anglais