par Gontier, Quentin ;Petrillo, Luca ;Rottenberg, François ;Horlin, François ;Wiart, Joe JW;Oestges, Claude ;De Doncker, Philippe
Référence (08-09 February, 2021: Online Meeting), Proc. of the 2nd Post-IRACON Meeting (COST)
Publication A Paraître, 2021-02
Publication dans des actes
Titre:
  • A stochastic geometry approach to EMF exposure modeling
Auteur:Gontier, Quentin; Petrillo, Luca; Rottenberg, François; Horlin, François; Wiart, Joe JW; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:(08-09 February, 2021: Online Meeting), Proc. of the 2nd Post-IRACON Meeting (COST)
Statut de publication:A Paraître, 2021-02
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:cellular networks
exposure
Poisson point process
stochastic geometry
Langue:Anglais