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Structural characterization of epitaxial Bi2Sr2CuO6+δ thin films deposited on SrTiO3 substrates using inverted cylindrical magnetron sputtering

par Ye, Min ;Zhang, Yinzi;De Marneffe, Jean-François ;Delplancke, Marie-Paule ;Deltour, Robert
Référence Thin solid films, 377-378, page (597-601)
Publication Publié, 2000-12

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