par Ye, Min ;Zhang, Yinzi;De Marneffe, Jean-François ;Delplancke, Marie-Paule ;Deltour, Robert
Référence Thin solid films, 377-378, page (597-601)
Publication Publié, 2000-12
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Structural characterization of epitaxial Bi2Sr2CuO6+δ thin films deposited on SrTiO3 substrates using inverted cylindrical magnetron sputtering
Auteur:Ye, Min; Zhang, Yinzi; De Marneffe, Jean-François; Delplancke, Marie-Paule; Deltour, Robert
Informations sur la publication:Thin solid films, 377-378, page (597-601)
Statut de publication:Publié, 2000-12
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0040-6090
info:doi/10.1016/S0040-6090(00)01273-6
info:scp/0034509128

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