par  Vanackere, Tom  ;Vandekerckhove, Tom
;Vandekerckhove, Tom  ;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien
;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien  ;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy
;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy  ;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane
;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane  ;Kuyken, Bart
;Kuyken, Bart
Référence APL Photonics, 8, 8
Publication Publié, 2023-08
           ;Vandekerckhove, Tom
;Vandekerckhove, Tom  ;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien
;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien  ;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy
;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy  ;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane
;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane  ;Kuyken, Bart
;Kuyken, BartRéférence APL Photonics, 8, 8
Publication Publié, 2023-08
                                                                                                       
			Article révisé par les pairs
                                                  
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