par Vanackere, Tom
;Vandekerckhove, Tom
;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien
;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy
;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane
;Kuyken, Bart
Référence APL Photonics, 8, 8
Publication Publié, 2023-08
;Vandekerckhove, Tom
;Bogaert, Laurens;Billet, Maximilien
;Poelman, Stijn;Cuyvers, Stijn;Van Kerrebrouck, J.;Moerman, A.;Caytan, O.;Singh, N.;Lemey, S.;Torfs, Guy
;Ossieur, P.;Roelkens, Gunther;Clemmen, Stéphane
;Kuyken, BartRéférence APL Photonics, 8, 8
Publication Publié, 2023-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Vanackere, Tom; Vandekerckhove, Tom; Bogaert, Laurens; Billet, Maximilien; Poelman, Stijn; Cuyvers, Stijn; Van Kerrebrouck, J.; Moerman, A.; Caytan, O.; Singh, N.; Lemey, S.; Torfs, Guy; Ossieur, P.; Roelkens, Gunther; Clemmen, Stéphane; Kuyken, Bart |
| Informations sur la publication: | APL Photonics, 8, 8 |
| Statut de publication: | Publié, 2023-08 |
| Sujet CREF: | Optique |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:E234834 |
| info:doi/10.1063/5.0150878 | |
| info:scp/85166983529 |



