par Ellinidou, Soultana
;Sharma, Gaurav
;Markowitch, Olivier
;Gogniat, Guy;Dricot, Jean-Michel 
Référence DFT(19-21 Oct. 2020: Frascati, Italy, Italy), 2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), IEEE, Vol. 1, page (1-6)
Publication Publié, 2020-10-20




Référence DFT(19-21 Oct. 2020: Frascati, Italy, Italy), 2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), IEEE, Vol. 1, page (1-6)
Publication Publié, 2020-10-20
Publication dans des actes
Fichier(s) déposé(s) par l'encodeur |