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EMF exposure modelling using stochastic geometry

par Gontier, Quentin ;Petrillo, Luca ;Nguyen, Trung-Hien ;Oestges, Claude ;Wiart, Joe JW;De Doncker, Philippe
Référence (30-31 January, 2020: Paris Est, France), Proc. of the 5th workshop on Uncertainty Modelling for ElectroMagnetic Applications, UMEMA
Publication Publié, 2020-01

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