EMF exposure modelling using stochastic geometry

Gontier, Quentin; Petrillo, Luca; Nguyen, Trung-Hien; Oestges, Claude; Wiart, Joe JW; De Doncker, Philippe

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EMF exposure modelling using stochastic geometry

par Gontier, Quentin

;Petrillo, Luca

;Nguyen, Trung-Hien

;Oestges, Claude

;Wiart, Joe JW ;De Doncker, Philippe

Référence (30-31 January, 2020: Paris Est, France), Proc. of the 5th workshop on Uncertainty Modelling for ElectroMagnetic Applications, UMEMA
Publication Publié, 2020-01

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