par Gontier, Quentin;Petrillo, Luca ;Nguyen, Trung-Hien ;Oestges, Claude ;Wiart, Joe JW;De Doncker, Philippe
Référence (30-31 January, 2020: Paris Est, France), Proc. of the 5th workshop on Uncertainty Modelling for ElectroMagnetic Applications, UMEMA
Publication A Paraître, 2020-01
Publication dans des actes
Titre:
  • EMF exposure modelling using stochastic geometry
Auteur:Gontier, Quentin; Petrillo, Luca; Nguyen, Trung-Hien; Oestges, Claude; Wiart, Joe JW; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:(30-31 January, 2020: Paris Est, France), Proc. of the 5th workshop on Uncertainty Modelling for ElectroMagnetic Applications, UMEMA
Statut de publication:A Paraître, 2020-01
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Anglais