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Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography

par Barroo, Cédric ;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy & Microanalysis 2017 (2017-08-06 - 2017-08-10: St Louis, MI)
Publication Non publié, 2017-08-04

Poster de conférence

• Détails

Titre:	Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography
Auteur:	Barroo, Cédric; Akey, Austin J; Bell, David C
Informations sur la publication:	Microscopy & Microanalysis 2017 (2017-08-06 - 2017-08-10: St Louis, MI)
Statut de publication:	Non publié, 2017-08-04
Sujet CREF:	Physique des surfaces
	Physique appliquée des surfaces
	Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:	Français