par Barroo, Cédric
;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy and microanalysis, 23, page (708-709), 10.1017/S1431927617004202
Publication Publié, 2017-08-04
;Akey, Austin J;Bell, David CRéférence Microscopy and microanalysis, 23, page (708-709), 10.1017/S1431927617004202
Publication Publié, 2017-08-04
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Barroo, Cédric; Akey, Austin J; Bell, David C |
| Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 23, page (708-709), 10.1017/S1431927617004202 |
| Statut de publication: | Publié, 2017-08-04 |
| Sujet CREF: | Chimie des surfaces et des interfaces |
| Physique des surfaces | |
| Physique appliquée des surfaces | |
| Langue: | Français |
| Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |



