par Wylock, Christophe
;Dehaeck, Sam
;Boulay, Emilie
;Colinet, Pierre
;Haut, Benoît 
Référence CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA)
Publication Non publié, 2010-06-07
;Dehaeck, Sam
;Boulay, Emilie
;Colinet, Pierre
;Haut, Benoît 
Référence CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA)
Publication Non publié, 2010-06-07
Communication à un colloque
| Titre: |
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| Auteur: | Wylock, Christophe; Dehaeck, Sam; Boulay, Emilie; Colinet, Pierre; Haut, Benoît |
| Informations sur la publication: | CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA) |
| Statut de publication: | Non publié, 2010-06-07 |
| Sujet CREF: | Génie chimique |
| Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
| Langue: | Anglais |



