par Wylock, Christophe ;Dehaeck, Sam ;Boulay, Emilie ;Colinet, Pierre ;Haut, Benoît
Référence CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA)
Publication Non publié, 2010-06-07
Référence CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA)
Publication Non publié, 2010-06-07
Communication à un colloque
Titre: |
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Auteur: | Wylock, Christophe; Dehaeck, Sam; Boulay, Emilie; Colinet, Pierre; Haut, Benoît |
Informations sur la publication: | CO2 Summit: Technology and Opportunity (06-10 /06/2010: Vail, USA) |
Statut de publication: | Non publié, 2010-06-07 |
Sujet CREF: | Génie chimique |
Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
Langue: | Anglais |