par Wylock, Christophe ;Dehaeck, Sam ;Boulay, Emilie ;Colinet, Pierre ;Haut, Benoît
Référence CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity
Publication Publié, 2010-06-06
Référence CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity
Publication Publié, 2010-06-06
Abstract de conférence
Titre: |
|
Auteur: | Wylock, Christophe; Dehaeck, Sam; Boulay, Emilie; Colinet, Pierre; Haut, Benoît |
Informations sur la publication: | CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity |
Statut de publication: | Publié, 2010-06-06 |
Sujet CREF: | Génie chimique |
Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
Note générale: | Oral presentation |
Langue: | Anglais |