par Wylock, Christophe
;Dehaeck, Sam
;Boulay, Emilie
;Colinet, Pierre
;Haut, Benoît 
Référence CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity
Publication Publié, 2010-06-06
;Dehaeck, Sam
;Boulay, Emilie
;Colinet, Pierre
;Haut, Benoît 
Référence CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity
Publication Publié, 2010-06-06
Abstract de conférence
| Titre: |
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| Auteur: | Wylock, Christophe; Dehaeck, Sam; Boulay, Emilie; Colinet, Pierre; Haut, Benoît |
| Informations sur la publication: | CO2 Summit:Technology and Opportunity(06-10 June 2010: Vail (Colorado, U.S.A.)), CO2 Summit:Technology and Opportunity |
| Statut de publication: | Publié, 2010-06-06 |
| Sujet CREF: | Génie chimique |
| Techniques d'imagerie et traitement d'images | |
| Note générale: | Oral presentation |
| Langue: | Anglais |



