Titre :
  • Advanced Quantum Material Characterization with Correlative 3D Atom Probe/STEM Techniques
Auteur : Bell, David C ; Akey, Austin J ; Barroo, Cédric ; Magyar, Andrew A.P.
Statut de publication : Non publié, 2016-11-27
Sujet CREF : Physique appliquée des surfaces
Physique des surfaces
Informations sur la conférence :
  • 2016 Materials Research Society Fall Meeting & Exhibit (27-11-2016 - 02-12-2016: Boston, MA, USA)
Langue :
  • Français