par Barroo, Cédric 
;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy and analysis, 24, 1, page (816-817), 10.1017/S1431927618004579
Publication Publié, 2018-08-06
;Akey, Austin J;Bell, David CRéférence Microscopy and analysis, 24, 1, page (816-817), 10.1017/S1431927618004579
Publication Publié, 2018-08-06
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Barroo, Cédric; Akey, Austin J; Bell, David C |
| Informations sur la publication: | Microscopy and analysis, 24, 1, page (816-817), 10.1017/S1431927618004579 |
| Statut de publication: | Publié, 2018-08-06 |
| Sujet CREF: | Chimie des surfaces et des interfaces |
| Physique appliquée des surfaces | |
| Langue: | Français |
| Identificateurs: | urn:issn:0958-1952 |
