Epitaxies étudiées par microscopie et diffraction électroniques.

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Promoteur Goche, Omer

Publication Non publié, 1955

Mémoire

Titre:	Epitaxies étudiées par microscopie et diffraction électroniques.
Auteur:	Delavignette, Pierre
Promoteur:	Goche, Omer
Informations sur la publication:	Université libre de Bruxelles, Faculté des sciences, Bruxelles
Statut de publication:	Non publié, 1955
Volumes/pages:	1 v.
Intitulé du diplôme:	Licence en sciences physiques
Langue:	Français
Identificateurs:	991000167319704066

On the microstructure of an iron-base ODS alloy
par Kehagias, T. , Coheur, Louis , Delavignette, Pierre
Publication 1993-01
Effects of creep on the microstructural features of an oxide-dispersion-strengthened superalloy
par Kehagias, T. , Coheur, Louis , Delavignette, Pierre
Publication 1991-01
Free Energy of the ? = 11 (332) Tilt Grain Boundary in Silicon
par Mourelatos, S. , Ralantosson, N. , Delavignette, Pierre , Hairie, A. , Hairie, F. , Hou, Marc , Paumier, E. , Sutton, A.P. , Thibault, J.
Publication 1993
TEM analysis of near‐coincidence grain boundaries in silicon
par Bary, Abdouraman , Nouet, Gérard , Delavignette, Pierre
Publication 1990
Tem study of twin boundary dislocations in cadmium
par Antonopoulos, Joannis J.G. , Komninou, Ph , Karakostas, Th , Delavignette, Pierre
Publication 1989

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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