par Bary, Abdouraman;Nouet, Gérard;Delavignette, Pierre 
Référence Journal of microscopy, 158, 3, page (403-414)
Publication Publié, 1990
Référence Journal of microscopy, 158, 3, page (403-414)
Publication Publié, 1990
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Bary, Abdouraman; Nouet, Gérard; Delavignette, Pierre |
| Informations sur la publication: | Journal of microscopy, 158, 3, page (403-414) |
| Statut de publication: | Publié, 1990 |
| Sujet CREF: | Histologie |
| Pathologie générale | |
| Médecine légale | |
| Mots-clés: | Coincidence grain boundaries |
| Kikuchi pattern | |
| secondary dislocations | |
| silicon | |
| transmission electron microscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| FLWNA | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0022-2720 |
| info:doi/10.1111/j.1365-2818.1990.tb03011.x | |
| info:scp/0024995869 |
