A digital oscilloscope setup for the measurement of a transistor's characteristic curves

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Référence American journal of physics, 78, 12, page (1425-1429)
Publication Publié, 2010-12-01

Article révisé par les pairs

Titre:	A digital oscilloscope setup for the measurement of a transistor's characteristic curves
Auteur:	de Buyl, Pierre
Informations sur la publication:	American journal of physics, 78, 12, page (1425-1429)
Statut de publication:	Publié, 2010-12-01
Sujet CREF:	Semi-conducteurs
	Instrumentation
	Electronique générale
	Physique
Mots-clés:	oscilloscopes
	signal detection
	transistors
	vocational training
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0002-9505
	info:doi/10.1119/1.3493628
	info:scp/78649337994
	http://link.aip.org/link/?AJP/78/1425/1

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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