par Voss, Christian;Kruse, Norbert 
Référence Surface science, 416, page (1114)
Publication Publié, 1998-08-06
Référence Surface science, 416, page (1114)
Publication Publié, 1998-08-06
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Autre titre: |
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| Auteur: | Voss, Christian; Kruse, Norbert |
| Informations sur la publication: | Surface science, 416, page (1114) |
| Statut de publication: | Publié, 1998-08-06 |
| Sujet CREF: | Chimie |
| Chimie des solides | |
| Physique des surfaces | |
| Mots-clés: | Field ion microscopy; Nitric oxide; Pt crystals; Restructuring |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0039-6028 |
| info:doi/10.1016/S0039-6028(98)00650-5 | |
| info:scp/0032182728 |
