par Rix, M.;Valks, Pieter;Hao, Nan;van Geffen, J.;Clerbaux, Cathy ;Clarisse, Lieven ;Coheur, Pierre ;Loyola, D.G.;Erbertseder, T.;Zimmer, W.;Emmadi, S.
Référence I E E E Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing, 2, 3, page (196-206)
Publication Publié, 2009
Référence I E E E Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing, 2, 3, page (196-206)
Publication Publié, 2009
Article révisé par les pairs