par Sausse, Marion ;Delchambre, Alain ;Régnier, Stéphane ;Lambert, Pierre
Référence Applied surface science, 253, page (6203-6210)
Publication Publié, 2009
Référence Applied surface science, 253, page (6203-6210)
Publication Publié, 2009
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Sausse, Marion; Delchambre, Alain; Régnier, Stéphane; Lambert, Pierre |
Informations sur la publication: | Applied surface science, 253, page (6203-6210) |
Statut de publication: | Publié, 2009 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Mots-clés: | Adhesion |
Electrostatic forces | |
Fractals | |
Micromanipulations | |
Roughness | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0169-4332 |
info:doi/10.1016/j.apsusc.2007.01.098 | |
info:pii/S0169433207001353 | |
info:scp/34247153920 |