Issues in measuring the degree of technological specialisation with patent data

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;Han, Wook
Référence Scientometrics, 66, 3, page (481-492)
Publication Publié, 2006

Article révisé par les pairs

Titre:	Issues in measuring the degree of technological specialisation with patent data
Auteur:	van Zeebroeck, Nicolas; Van Pottelsberghe, Bruno; Han, Wook
Informations sur la publication:	Scientometrics, 66, 3, page (481-492)
Statut de publication:	Publié, 2006
Sujet CREF:	Economie
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0138-9130
	info:doi/10.1007/s11192-006-0035-y
	info:scp/31744441865
	RePEc:ulb:ulbeco:2013/6199
	bvp-0009

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