par Reniers, François ;Roose, N.;Silberberg, Eric ;Vereecken, Jean
Référence Applied surface science, 99, page (379-392)
Publication Publié, 1996
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Study of the chemical bonding in tungsten carbide and chromium films by application of factor analysis on AES depth profiles
Auteur:Reniers, François; Roose, N.; Silberberg, Eric; Vereecken, Jean
Informations sur la publication:Applied surface science, 99, page (379-392)
Statut de publication:Publié, 1996
Sujet CREF:Chimie analytique
Chimie des surfaces et des interfaces
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0169-4332
info:doi/10.1016/0169-4332(96)00457-6
info:pii/S0169433296004576
info:scp/0030216597

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