par Vanden Daele, Raphaël
;Peng, Youbin
;Kinnaert, Michel 
Editeur scientifique Patton, Ron;Chen, J.
Référence IFAC Symposium on Fault Detection,Supervision, and Safety for Technical Processes(26-28 août 1997: Kingston Upon Hull, U.K.), Fault detection, supervision, and safety for technical processes, proceedings of SAFEPROCESS'97, Pergamon, Oxford, page (546-551)
Publication Publié, 1997



Editeur scientifique Patton, Ron;Chen, J.
Référence IFAC Symposium on Fault Detection,Supervision, and Safety for Technical Processes(26-28 août 1997: Kingston Upon Hull, U.K.), Fault detection, supervision, and safety for technical processes, proceedings of SAFEPROCESS'97, Pergamon, Oxford, page (546-551)
Publication Publié, 1997
Publication dans des actes
Titre: |
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Auteur: | Vanden Daele, Raphaël; Peng, Youbin; Kinnaert, Michel |
Editeur scientifique: | Patton, Ron; Chen, J. |
Informations sur la publication: | IFAC Symposium on Fault Detection,Supervision, and Safety for Technical Processes(26-28 août 1997: Kingston Upon Hull, U.K.), Fault detection, supervision, and safety for technical processes, proceedings of SAFEPROCESS'97, Pergamon, Oxford, page (546-551) |
Statut de publication: | Publié, 1997 |
Sujet CREF: | Automatique |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:isbn:0080423817 |
mk-0066 |