Titre:
  • Measuring the molecular origins of stiffness in organic semiconductors
Auteur:Hwang, Ki-Hwan; Brandt, Dorothée; Cristofaro, Silvia; Nickerson, Cameron J.; Modesti, Federico; Gicevičius, Mindaugas; Cervantes, Mateo T. R.; Volpi, Martina; Spalek, Leszek L.J.; Muccioli, L; Claesson, Per Martin; Fruk, Ljiljana; Geerts, Yves; Schweicher, Guillaume; Olivier, Yoann; Johnson, Erin R.; Venkateshvaran, Deepak
Informations sur la publication:Nature communications
Statut de publication:Publié, 2026-01-13
Sujet CREF:Chimie
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:2041-1723
info:doi/10.1038/s41467-026-68328-0