Probing Out-Of-Plane Charge Transport in Organic Semiconductors Using Conductive Atomic Force Microscopy

;Samori, Paolo ;Sirringhaus, Henning
Référence Advanced materials, 37, 7, 2418694
Publication Publié, 2025-02-01

Article révisé par les pairs

Titre:	Probing Out-Of-Plane Charge Transport in Organic Semiconductors Using Conductive Atomic Force Microscopy
Auteur:	Gicevičius, Mindaugas; Gong, Haoxin; Turetta, Nicholas; Wood, William; Volpi, Martina; Geerts, Yves; Samori, Paolo; Sirringhaus, Henning
Informations sur la publication:	Advanced materials, 37, 7, 2418694
Statut de publication:	Publié, 2025-02-01
Sujet CREF:	Technologie des autres industries
	Métallurgie et mines
	Mécanique sectorielle
Mots-clés:	conductive atomic force microscopy
	contact resistance
	high mobility
	organic semiconductors
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0935-9648
	info:doi/10.1002/adma.202418694
	info:scp/85213055146

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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