par Janssens, E.;Van Hoof, Thibaut ;Veldeman, N.;Neukerman, S.;Hou, Marc ;Lievens, Pierre
Référence International Journal of Mass Spectrometry, 252, 1, page (38-46)
Publication Publié, 2006
Référence International Journal of Mass Spectrometry, 252, 1, page (38-46)
Publication Publié, 2006
Article révisé par les pairs