par Janssens, E.;Van Hoof, Thibaut
;Veldeman, N.;Neukerman, S.;Hou, Marc
;Lievens, Pierre
Référence International Journal of Mass Spectrometry, 252, 1, page (38-46)
Publication Publié, 2006


Référence International Journal of Mass Spectrometry, 252, 1, page (38-46)
Publication Publié, 2006
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