Effects of Processing-Induced Contamination on Organic Electronic Devices

Simatos, Dimitrios; Jacobs, Ian E.; Dobryden, Illia; Nguyen, Małgorzata; Savva, Achilleas; Venkateshvaran, Deepak; Nikolka, Mark; Charmet, Jérôme; Spalek, Leszek L.J.; Gicevičius, Mindaugas; Zhang, Youcheng; Schweicher, Guillaume; Howe, Duncan J.; Ursel, Sarah; Armitage, John; Dimov, Ivan; Kraft, Ulrike; Zhang, Weimin; Alsufyani, Maryam; McCulloch, Iain; Owens, Róisín M.; Claesson, Per Martin; Knowles, Tuomas P. J.; Sirringhaus, Henning

doi:doi/10.1002/smtd.202300476

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