par Lambeets, Sten
;Cardwell, Naseeh;Onyango, Isaac;Wirth, Mark G.;Teng, Janet;Orren, Graham J.;Devaraj, Arun;Visart de Bocarmé, Thierry
;McEwen, Jean-Sabin
;Perea, Daniel D.E.
Référence Microscopy and microanalysis, 28, page (724-725)
Publication Publié, 2022-07-15
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Publication Publié, 2022-07-15
Article révisé par les pairs