par Lambeets, Sten 
;Cardwell, Naseeh;Onyango, Isaac;Wirth, Mark G.;Teng, Janet;Orren, Graham J.;Devaraj, Arun;Visart de Bocarmé, Thierry ;McEwen, Jean-Sabin ;Perea, Daniel D.E.
Référence Microscopy and microanalysis, 28, page (724-725)
Publication Publié, 2022-07-15
;Cardwell, Naseeh;Onyango, Isaac;Wirth, Mark G.;Teng, Janet;Orren, Graham J.;Devaraj, Arun;Visart de Bocarmé, Thierry ;McEwen, Jean-Sabin ;Perea, Daniel D.E.Référence Microscopy and microanalysis, 28, page (724-725)
Publication Publié, 2022-07-15
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Lambeets, Sten; Cardwell, Naseeh; Onyango, Isaac; Wirth, Mark G.; Teng, Janet; Orren, Graham J.; Devaraj, Arun; Visart de Bocarmé, Thierry; McEwen, Jean-Sabin; Perea, Daniel D.E. |
| Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 28, page (724-725) |
| Statut de publication: | Publié, 2022-07-15 |
| Sujet CREF: | Physique des phénomènes non linéaires |
| Chimie | |
| Sciences exactes et naturelles | |
| Chimie des surfaces et des interfaces | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |
| info:doi/10.1017/S143192762200335X |
