par Rosenfeld, Jean 
;De Smet, Yves ;Debeir, Olivier ;Decaestecker, Christine
Référence Pattern recognition, 114, 107850
Publication Publié, 2021-01-29
;De Smet, Yves ;Debeir, Olivier ;Decaestecker, Christine Référence Pattern recognition, 114, 107850
Publication Publié, 2021-01-29
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Rosenfeld, Jean; De Smet, Yves; Debeir, Olivier; Decaestecker, Christine |
| Informations sur la publication: | Pattern recognition, 114, 107850 |
| Statut de publication: | Publié, 2021-01-29 |
| Sujet CREF: | Intelligence artificielle |
| Informatique générale | |
| Informatique appliquée logiciel | |
| Mots-clés: | Clustering |
| K-means | |
| Multicriteria | |
| Partial ordering | |
| Partition | |
| Preference | |
| Quality assessment | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0031-3203 |
| info:doi/10.1016/j.patcog.2021.107850 | |
| info:pii/S0031320321000376 | |
| info:scp/85100650765 |
