par Jacobs, Luc 
;Visart de Bocarmé, Thierry ;Barroo, Cédric
Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (322-323), 10.1017/S1431927619002344
Publication Publié, 2019-08-05
;Visart de Bocarmé, Thierry ;Barroo, Cédric Référence Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (322-323), 10.1017/S1431927619002344
Publication Publié, 2019-08-05
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Jacobs, Luc; Visart de Bocarmé, Thierry; Barroo, Cédric |
| Informations sur la publication: | Microscopy and microanalysis, 25, 2, page (322-323), 10.1017/S1431927619002344 |
| Statut de publication: | Publié, 2019-08-05 |
| Sujet CREF: | Physique des surfaces |
| Physique appliquée des surfaces | |
| Chimie des surfaces et des interfaces | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1431-9276 |
