Impact of device and interconnect process variability on clock distribution

Fiévet, Nathalie; Raghavan, Praveen; Rogier, Bart; Robert, Frédéric; Mercha, Abdelkarim; Verkest, Diederik; Thean, Aaron

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Impact of device and interconnect process variability on clock distribution

par Fiévet, Nathalie ;Raghavan, Praveen ;Rogier, Bart ;Robert, Frédéric

;Mercha, Abdelkarim ;Verkest, Diederik ;Thean, Aaron
Référence International Conference on IC Design & Technology (ICICDT)(1-3 June 2015: Leuven, Belgium), International Conference on IC Design & Technology (ICICDT)
Publication Publié, 2015-07-27

Publication dans des actes

Détails

Titre:	Impact of device and interconnect process variability on clock distribution
Auteur:	Fiévet, Nathalie; Raghavan, Praveen; Rogier, Bart; Robert, Frédéric; Mercha, Abdelkarim; Verkest, Diederik; Thean, Aaron
Informations sur la publication:	International Conference on IC Design & Technology (ICICDT)(1-3 June 2015: Leuven, Belgium), International Conference on IC Design & Technology (ICICDT)
Statut de publication:	Publié, 2015-07-27
Sujet CREF:	Technol. des composantes électroniques [microélectronique]
Langue:	Anglais

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