par Durand, Gilles Alphonse;Valsecchi, Giuseppe;Wittrock, Ulrich;Amiaux, Jérome;Sauvage, Marc;Martens, T.;Austin, James W.;Chesne, Simon ;Collette, Christophe ;Pareschi, J.;Penfornis, Yann
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10562, 105623R
Publication Publié, 2017-09
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10562, 105623R
Publication Publié, 2017-09
Article révisé par les pairs