par Durand, Gilles Alphonse;Valsecchi, Giuseppe;Wittrock, Ulrich;Amiaux, Jérome;Sauvage, Marc;Martens, T.;Austin, James W.;Chesne, Simon 
;Collette, Christophe ;Pareschi, J.;Penfornis, Yann
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10562, 105623R
Publication Publié, 2017-09
;Collette, Christophe ;Pareschi, J.;Penfornis, YannRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10562, 105623R
Publication Publié, 2017-09
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Durand, Gilles Alphonse; Valsecchi, Giuseppe; Wittrock, Ulrich; Amiaux, Jérome; Sauvage, Marc; Martens, T.; Austin, James W.; Chesne, Simon; Collette, Christophe; Pareschi, J.; Penfornis, Yann |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10562, 105623R |
| Statut de publication: | Publié, 2017-09 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.2296208 | |
| info:scp/85037684029 |
